Digital Single Event Transients
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1. Single event transients in logic circuits - load and propagation induced pulse broadening
The generation and propagation of single event transients (SET) in logic gate chains is studied and modeled. Regarding SET generation, we investigate the dependence of the generated SET pulse width on the struck node capacitance. Rising node capacitance may lead to amplified pulse width, indicating that increasing load capacitance alone is not an option for
Publicado em: 2011
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2. Exploiting EDA tools for the analysis and protection of integrated circuits against radiation-induced single event transients / Explorando ferramentas de EDA para a análise e proteção de circuitos integrados contra eventos singulares transitórios induzidos por radiação
Este trabalho apresenta um estudo da análise e proteção de circuitos integrados contra eventos singulares transitórios usando ferramentas de EDA. Eventos singulares transitórios (SETs) surgem a partir da colisão de partículas de alta energia em circuitos combinacionais podendo levar o sistema a resultados indesejados. A confiabilidade de circuitos dig
Publicado em: 2010
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3. Three different techniques to cope with radiation effects and component variability in future technologies
Existe um consenso de que os transistores CMOS irão em breve ultrapassar a barreira nanométrica, permitindo a inclusão de um enorme número desses componentes em uma simples pastilha de silício, mais ainda do que a grande densidade de integração vista atualmente. Entretanto, também tem sido afirmado que este desenvolvimento da tecnologia trará juntam
Publicado em: 2008