Kelvin Probe Force Microscopy
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1. Identificação de estruturas biológicas por microscopia de força atômica / Identification of biological structures by atomic force microscopy
Este trabalho tem como finalidade mostrar a importância dos diferentes modos da Microscopia de Varredura por Ponta de Prova (SPM) numa abordagem complementar para o estudo de dois diferentes sistemas biológicos. O processo de formação de biofilmes da bactéria fitopatogênica Xylella fastidiosa (Xf) foi o primeiro sistema abordado neste trabalho. Neste c
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 18/11/2011
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2. Nanofios semicondutores : analise de propriedades eletricas e estruturais por microscopia no modo Kelvin Probe / Semiconductor nanowires : analysis of electric and structural properties by Kelvin Probe force microscopy
As propriedades elétricas de nanofios (InAs, InP, InP-InAs-InP, InAsP) individuais e em junções foram estudadas implementando simultaneamente as técnicas Non Contact Atomic Force Microscopy NC-AFM (para aquisição da topografia) e Amplitude-sensitive Modulated Kelvin Probe Microscopy AM-KPFM (fornece medidas do Potencial de Superfície), permitindo corr
Publicado em: 2008
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3. Sample preparation method for scanning force microscopy
We present a method of sample preparation for studies of ion implantation on metal surfaces. The method, employing a mechanical mask, is specially adapted for samples analysed by Scanning Force Microscopy. It was successfully tested on polycrystallyne copper substrates implanted with phosphorus ions at an acceleration voltage of 39keV. The changes of the ele
Brazilian Journal of Physics. Publicado em: 2001-12